特徴
高感度
1mm 厚のテルル化カドミウム (CdTe) 半導体検出器により、従来型のX線センサよりも格段に高効率にX線を画像化します。100keVを超えるX線光子に対しても十分な吸収効率を持つので、加速電圧の高いX線源と組み合わせることで、従来のX線検査では難しかった厚みのある金属製品などの撮像も可能となります。
高精細
従来のシンチレータ型X線検出器は、X線を光に変換してからカメラによる撮像を行うため、変換時に光の拡散により画像にぼけが生じるという課題がありました。これに対し直接変換型CdTe検出器は画素中でX線光子を電荷に直接変換するため、より高精細なX線画像を撮像することができます。
動画レートでの撮像が可能
毎秒500フレーム以上の速度で撮像が可能であり、出荷検査工程における高速なインライン検査にも対応できます。
撮像例
想定ユースケース
- インライン非破壊検査
- インフラ検査
- 産業向けコンピュータ断層撮影(CT)
システム構成
シリアル通信による制御と、CameraLinkによる画像出力を介し、お客様の装置や検査システムへ統合することができます。
仕様
センサ領域サイズ | 204.8 x 3.2 mm |
ピクセル数 | 2048 x 32 pixel |
ピクセルピッチ | 100 μm |
最速フレームレート | 500 fps (32ライン使用時) |
対応ラインスピード | 最速 96 m / 分 |
ピクセルフォーマット | 14 bit グレイスケール |
感度 | 2078 LSB/uGy |
ダイナミックレンジ | 83 dB |
センサ方式 | 直接変換型CdTe半導体検出器 |
通信方式 | CameraLink (Base configuration, SDRコネクタ) |
制御方式 | シリアル通信 (RS-232CまたはCameraLink) |
トリガ入力 | BNC端子 |
電源 | 12V ACアダプター |
消費電力 | 20W |
重量 | 3.0 kg |
サイズ | (D) 244 x (W) 290 x (H) 64 mm (突起部除く) |
動作温度 | 0 ℃〜30 ℃ (結露なきこと) |
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